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numerik jena光柵KIT R 411B 92/3600 K01 RA細分誤差
瀏覽次數(shù):112發(fā)布日期:2025-03-25

德國NUMERIK JENA成立于1976年,開發(fā)、生產(chǎn)和銷售高分辨率和高精度光電掃描直線光柵尺和旋轉(zhuǎn)編碼器。我們的產(chǎn)品是業(yè)內(nèi)的,其特別小巧的尺寸 - 靈活通用性使這些產(chǎn)品得到廣泛的應(yīng)用。我們的EPIFLEX讀數(shù)模塊擁有優(yōu)良的性能,特別適用于集成在所有高科技的應(yīng)用中。

我們擁有先進的生產(chǎn)技術(shù),并用先進技術(shù)生產(chǎn)高科技的測量系統(tǒng)。豐富的自主生產(chǎn)設(shè)備確保產(chǎn)品的高質(zhì)量和高重復(fù)精度。我們致力于不斷提高和開發(fā)創(chuàng)新的產(chǎn)品,在國際市場上贏得市場地位。NUMERIK JENA擁有現(xiàn)代化的生產(chǎn)技術(shù),包括光刻技術(shù)、薄膜技術(shù)、結(jié)構(gòu)和連接技術(shù)、機械生產(chǎn)和組裝技術(shù)。這些技術(shù)不僅縮短生產(chǎn)時間,還提供更高靈活性。

無論是標(biāo)準(zhǔn)化的產(chǎn)品還是個性化的產(chǎn)品,我們的高質(zhì)量測量系統(tǒng)都是您的理想選擇。我們愿與您一道共同探索能滿足您應(yīng)用要求的解決方案。

我公司全體員工為您提供支持,幫助您實現(xiàn)創(chuàng)意和在全球各地保持成功

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LIKgo是NUMERIK JENA推出的全新、特別設(shè)計的直線光柵尺,用以更好地滿足客戶的要求。全新兩場讀數(shù)模塊提升多項性能,簡化用戶的安裝操作。

 

 

全新入門級的LIKgo敞開式光學(xué)光柵尺性能優(yōu)異,為即將推出的多款產(chǎn)品打造基礎(chǔ)。全新設(shè)計還創(chuàng)新地融合NUMERIK JENA產(chǎn)品的突出優(yōu)點。全新LIK系列產(chǎn)品設(shè)計的目標(biāo)是:易用性、廣泛的應(yīng)用范圍和高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

性能特點

  • 小巧和輕型讀數(shù)頭

  • 20 µm柵距和測量步距達78.125 nm

  • 全新2場掃描技術(shù),提供高的信號質(zhì)量

  • 無相位和偏移誤差

  • 更小細分誤差

  • 極小的功耗和發(fā)熱

  • 無需其它電子電路,在讀數(shù)頭中細分TTL信號

  • 安裝后可進行電子調(diào)試,減小靜態(tài)安裝誤差

  • 改進“調(diào)試工具"的連接

技術(shù)參數(shù)